Journal of Instrumentation, 19-4, 2024 doi:10.1088/1748-0221/19/04/C04025
Tosti L., Antognini L., Aziz S., Bashiri A., Calcagnile L., Caputo D., Caricato A., Catalano R., De Cesare G., Chilà D., Cirrone G., Croci T., Cuttone G., Dunand S., Fabi M., Frontini L., Grimani C., Ionica M., Kanxheri K., Large M., Liberali V., Lovecchio N., Martino M., Maruccio G., Mazza G., Menichelli M., Monteduro A., Morozzi A., Moscatelli F., Nascetti A., Pallotta S., Passeri D., Pedio M., Petasecca M., Petringa G., Peverini F., Piccolo L., Placidi P., Quarta G., Rizzato S., Sabbatini F., Servoli L., Stabile A., Talamonti C., Thomet J., Villani M., Wheadon R., Wyrsch N., Zema N.