Electronic Structure, 1-1, 2019 doi:10.1088/2516-1075/ab0835
Das P.K., Di Sante D., Cilento F., Bigi C., Kopic D., Soranzio D., Sterzi A., Krieger J.A., Vobornik I., Fujii J., Okuda T., Strocov V.N., Breese M.B.H., Parmigiani F., Rossi G., Picozzi S., Thomale R., Sangiovanni G., Cava R.J., Panaccione G.