Attività
“Caratterizzazione avanzata mediante microscopia elettronica di materiali nanostrutturati ed eterostrutture di film sottili” nell'ambito del Progetto Strategico di Ricerca NFFA-Trieste Demonstrator (MIUR)/Progetto NFFA-Europe, da svolgersi presso la Sede Primaria di Trieste dell'Istituto IOM sotto la responsabilità scientifica della Dr.ssa Regina Ciancio.
Requisiti
- Titolo di studio richiesto:
- Diploma di laurea in Fisica o in materie affini e titolo di Dottore di Ricerca di durata minima triennale nelle medesime discipline
- Ulteriori requisiti:
- Comprovata esperienza nel campo della microscopia elettronica in trasmissione e caratterizzazione delle proprietà chimico-fisiche di materiali, nonché buona conoscenza delle tematiche di ricerca tipiche della scienza dei materiali generalmente affrontate con la microscopia elettronica e della complementarietà di quest'ultima con altre tecniche sperimentali
- sarà altresì valutata positivamente esperienza pregressa in caratterizzazione TEM/STEM di sistemi di ossidi complessi, analisi dati e simulazione di immagini TEM/STEM e in esperimenti TEM/STEM in situ
- Conoscenza della lingua inglese (da valutarsi in sede di colloquio)
- Conoscenza di base della lingua italiana (solo per i candidati stranieri, da valutarsi in sede di colloquio)
